Smartlab µ---用于微区和薄膜测量
理学新发布超高强度超级微区X射线广角散射(WAXS)系统 Smartlab µ。SmartLab μ通过结合Rigaku专有的微焦斑高辉度X射线源、多层膜聚焦反射镜和多维混合像素阵列探测器,可以在很短的扫描时间内获得高灵敏度和高精确的测量数据。它还能够结合标准SmartLab衍射仪的光学元件,这种兼容性使用户能够轻松执行各种各样的物相的定性定量分析, 薄膜分析,包括高分辨率摇摆曲线分析,倒易空间映射和掠入射扫描。
SmartLab μ采用微焦斑旋转阳极Cu靶为光源, 配备高通量共聚焦多层膜镜(单晶XRD上专用)结合多丝准直器,可做到30μm直径的微小部位的测量和分析。与配置聚焦转靶X射线源及CBO-f双准直器的标准SmartLab进行氧化铝(NIST676 a)样品的测量比较,SmartLab μ提供的X射线强度约为SmartLab的96倍。
![]() | 测量条件: 光束尺寸Φ100μm 扫描速度: 40°/min 测量时间: ~ 2min/点 |
因为配备了HyPix3000 2D X射线 光子直读探测器, 因此可以进行高速扫描,具备了高分辨率和高灵敏度的特性。
白色区域的二维衍射图及定性结果(橄榄石) 黑色区域的二维衍射图及定性结果(火辉石)
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